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ANDK测试座之RF射频芯片测试座

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ANDK测试座之RF射频芯片测试座
ANDK测试座之RF射频芯片测试座
ANDK测试座之RF射频芯片测试座
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编辑时间 : 2020-06-13
信息标签 : 老化测试座

  ANDK测试座之RF射频芯片测试座


  我们都知道,射频组件和射频芯片是无线连接的核心,也是半导体行业的重要组成部分。随着5G和WIFI6的出现,射频技术也遇到了新的挑战和机遇。目前,射频组件和射频芯片的设计和生产能力仍然比较薄弱。随着国家战略调整政策的实施,越来越多的资源投入到射频组件和芯片的开发和生产中。在这个过程中,在中国,迫切需要满足RF芯片的生产测试。老化测试座


  测试中的困难是:


  1.被测设备越来越小,测试频率越来越高。许多设备的尺寸小于1mm。测试频率高于40GHZ。


  2.受测试夹具和校准的影响,如何准确测量是制造商面临的首要问题。


  对于射频芯片,芯片制造商通常会执行哪种测试?


  测试指标:


  ■驻波,插入损耗;


  ■中心频率,带宽;


  ■带内波动,带外抑制,组延迟等。


  测试插座在RF芯片的测试中起什么作用?


  一般来说,RF射频测试座可以在研发和小批量生产阶段进行测试工作。手动进行测试,并根据客户的射频芯片尺寸和测试参数精确定制测试座,以确保测试结果的准确性.老化测试座