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Bits Shanghai 2015

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Bits Shanghai 2015
Bits Shanghai 2015
Bits Shanghai 2015
访问量 : 81
编辑时间 : 2019-11-08
信息标签 : 传感器测试座

8:00 - 9:00

Registration

Please arrive early to check-in and pickup your conference badge and materials prior to the program start.

9:00 - 9:15

Opening Remarks

Welcoming remarks from Ira Feldman, BiTS Workshop General Chair, and Steven Zheng, BiTS Shanghai Chair

9:15 - 10:00

Keynote Address

“China's Impact on the Semiconductor Industry”

Ed Pausa

Ed Pausa

Director
Technology Center

PricewaterhouseCoopers

"主题:中国对半导体行业的影响"

作为“中国对半导体行业的影响-2015年更新版”的主撰写人,Pausa先生将综述中国和全球半导体市场的整体情况,并专注阐述在过去三年中中国的半导体消费为什么并如何成长为全球50%以上的庞大市场。虽然,中国半导体生产的增长超过了其消费的增长率,但是中国目前却只占有全球的14%产量。如何理解中国的急速增长的半导体芯片消费和生产能力之间的差距,这个差距在2014年已经达到历史高点的1200亿美金。

在过去10多年里,Pausa先生一直是这份PriceWaterhouseCoopers的年度报告的作者,并对半导体市场动态有非常独特的见解和洞察

Pausa先生在PriceWaterhousecoopers已经工作了20多年,是一位非常有经验的跨国公司高级管理人员。Pausa先生在半导体行业有40年以上的广泛经验,其中25年活跃在半导体行业的各个分属领域(包括integrated device manufacturer, semiconductor equipment and materials, semiconductor manufacturing services, and fabless semiconductor)。他曾经在18个国家管理过33个工厂和所属公司并在美国的6个州管理过11家工厂。在1990年,Pausa先生从National Semi的副总裁退休后,开始通过Coopers&Lybrand Managing Counsulting Service向PWC提供咨询服务

Pausa先生拥有工程荣誉学士学位,Metallurgy大学的科学硕士学位,以及加州大学Berkeley分校的管理学证书。他还是美国海军预备队的Captain军衔。


10:00 - 12:15

Session 1

Best of BiTS 2015

Awarding winning presentations from BiTS 2015

"超高速信号(32Gbps/Gbaud)的测试: 电路板与测试基座的设计与挑战"

Jose Moreira

Advantest

Christian Borelli

STMicroelectronics

Fulvio Corneo

STMicroelectronics



"适用于飞速(80 GHz)测试的 Socket 设计"

Don Thompson

R&D Altanova

Jose Moreira

Advantest



"半导体测试触头电流承载能力测定方法的比较"

Valts Treibergs

Xcerra Corporation

Mitchell Nelson

Xcerra Corporation


"半导体测试的经济学-2016年的挑战和机遇"

John West

VLSI Research Europe


12:15 - 14:15

Lunch &
BiTS EXPO

BiTS EXPO OPENS

Enjoy the delicious hot buffet lunch and networking time. Then take the time to explore the BiTS EXPO. There will be many great exhibits to explore what is Now & Next in the test and burn-in of semiconductors. You will be certain to see something new or meet someone new.

As attendees to BiTS know, there is always excellent food, drinks, and time for attendees to network with exhibitors!

BiTS EXPO will be remain open throughout the afternoon until 18:00

14:15 - 16:15

Session 2

East Meets West

Asian BiTS Papers

"WLP探测技术的机会与挑战"

Clark Liu

PowerTech Technology Inc.


"研发和改进WLCSP Socket, 0.2mm 微间距晶圆测试插座的设计与制造."

Colin Koh

Test Tooling Solutions Group



"芯片测试探针/座的信号完整性 及其影响"

Jiachun (Frank) Zhou

Smiths Connectors

Dexian Liu

Smiths Connectors

Professor Sun Ling

Jiangsu Key Lab of ASIC Design, Nantong University



"通过测试硬件的优化来提升LPDDR4信号和电源的性能"

Yuanjun Shi

Twinsolution Technology

Xiao.Yao

HiSilicon Technologies Co


16:15 - 18:00

BiTS EXPO
& Afternoon Tea

BiTS EXPO Continues

Enjoy additional time to meet with the presenters, network, and explore the BiTS EXPO further. There will be many great exhibits to explore what is Now & Next in the test and burn-in of semiconductors.

Afternoon refreshments will be served.